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    DDR3/LPDDR3一致性测试/分析/调试系统
    你所不了解的DDR

    市场现状

    测试痛点

    测试方案

    方案优势

    技术指标

    随着近十年以来智能手机、智能电视、AI技术的风起云涌,人们对容量更高、速度更快、能耗更低、物理尺寸更小的嵌入式和计算机存储器的需求不断提高,DDR SDRAM也不断地响应市场的需求和技术的升级推陈出新。

    目前,用于主存的DDR SDRAM系列的芯片已经演进到了DDR5了,但市场上对经典的DDR3 SDRAM的需求仍然比较旺盛。

    测试和验证电子设备中的DDR内存,客户一般面临三大难题:

    1.如果连接DDR内存管脚;

    2.如何探测和验证突发的读写脉冲信号;

    3.配置测试系统完成DDR内存一致性测试

    为解决研发人员在DDR内存系统研发、调试和验证测试的难题,推荐配置基于MSO64B示波器的内存调试及一致性测试系统,主要功能如下:

    ●完整的覆盖DDR3和LPDDR3规范测试的项目

    ●自动实现突发Write/Read信号分离,可以在同一次采集数据中完成参数测试;

    ●对控制器端可以自定义修改电平门限,适用不同存储接口的设计;

    ●支持CMD总线解码,更加直观的反应内存总线读写时序;

    ●同时兼顾标准化测试和单项调试,可以用于产品调试和验证环节;

    ●自动生成一致性测试报告,汇总测试数据和关键波形截图

    ●TDP77系列三模探头,提供DDR测试专用FLEXB柔性连接附件,针对DDR芯片/颗粒狭小空间设计,配合Interposer完成各种类型DDR芯片的信号连接

    系统中的MSO6B示波器是全新一代高精度/多通道信号采集与分析设备,具有12bits高分辨率ADC,uV级的本底噪声和50Gs/s高采样率,准确捕获和分析DDR读写和控制信号FlexChannel技术通过TLP058探头可以灵活将任一模拟通道转变为8路数字通道,实现数字通道测试。

    使用泰克DDR测试系统,工程师可以享受到如下便利:

    ●无需参考复杂的JEDEC规范,快速测试关键指标系统参数,找到系统潜在风险;泰克提供与JEDEC联合发布的测试MOI,指导使用者轻松完成信号连接、仪器设置与全自动或手动测试。

    ●通过探头可以将系统工作时的波形准确的采集下,提供最直接最深入的信号接口时序/幅度信息,无需设置特定的测试场景;

    ●对特殊场景下DDR/LPDDR的应用提供测试能力,可以确保系统性能的前提下找到芯片工作的极限条件;

    ●无需人工进行READ/WRITE的区分,全自动软件判断,或者通过CMD总线进行联合调试,发现潜在的时序风险;

    ●当测试出现fail时,可以针对fail项目进行多次,循环测试,改变电路、芯片参数,迅速反馈测试结果以调整到最佳值;

    1.模拟通道数:不小于4通道

    2.带宽:不低于8GHz

    3.最高采样率:不小于50Gs/s

    4.垂直分辨率:不小于12bits(硬件,非软件实现)

    5.数字通道数:可支持32路数字通道

    6.本底噪声 (50Ω阻抗,4GHz,1mV/div,RMS) :不大于100μV

    7.可视化触发:支持20个用户绘制区域的软件触发

    8.支持DDR3分析与调试功能,支持用户定义DDR速率

    9.支持自动DDR3一致性测试功能

    10.支持limit极限测试,支持用户自定义极限;支持自定义测试循环次数

    11.提供4只带宽不小于1GHz,电容不大于4pF无源高阻探头

    TDP7708探头+FLEXB连接器完美解决DDR内存信号连接问题

    Tektronix 与 JEDEC联合发布的MOI

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    探寻DDR的发展演变,详解经典DDR3的解决方案。
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